中科大郭光灿院士制作团队开发出量子门测量的新方法

粒子核心技术的发展是当前最热二门的前沿科学之一，它被认为是衡量一个第三世界新材料水平的举足轻重logo。在骨架的基础上，粒子算出机由多个粒子二门组成。容错粒子算出能够对二门进行高保真操控，优先合作开发一种有用且适当的方法有来检查粒子二门的保真度，这一点至关举足轻重。

昨日，中国人科学核心技术大学徐光灿中国人科学院设计团队揭晓了其在粒子二门测定与侦测核心技术方面取得的重大进展。

由于测定和算出的指数级上升，习惯的粒子态放射治疗方法有以后具有操控性，因为粒子核心技术的未来在于大规模的二门和分段。最近有人提出了一种新的理论方法有，称为“粒子二门次测试”，但在粒子二门的缺失或实验标准差方面大部分没有表现出操控性。

徐光灿中国人科学院设计团队将粒子二门次测试理论与其近年来合作开发的多参数粒子精密测定跨平台借助于，并通过改进型粒子二门检验的数据处理线性，实现了在粒子二门缺失检验上延续高效率的同时提升标准差侦测的操控性。

通过对粒子二门输出的多次均匀分布投影测定，改进型后的次测试方法有实现了均值的采样线性（1/ε），实验结果也毫无疑问这一点。更举足轻重的是，这种方法有所需要的采样线性不会随着粒子二门规模的增高而增高。

来进行新合作开发的粒子二门次测试方法有，研究小组随后次测试了2比特的CNOT二门（Control-not gate）和3比特的Toffoli二门（Controlled-controlled-not gate）。在使用20和32个测定可有的情况下，获得了检验保真度是否超过99%和97%所需要的最低1600和2600次测定。相对来说，习惯方法有能够324和4096个可有，同时能够数百万次的测定。

这项工作为先进粒子算出机的发展得出结论了巨大贡献。月出版Efficient Experimental Verification of Quantum Gates with Local Operations的方面研究论文发表在《物理评论创刊号》（Physical Review Letters）上。

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